aa
bb

Prinsip Dasar dan Aplikasi Metode Difraksi Sinar-X untuk Karakterisasi Material

Rp80.000,00

Deskripsi Produk

Buku ini berisi 9 bab yang membahas antara lain:

  • Karakteristik dasar sinar X dan hamburan sinar X yang dihasilkan akibat interaksi sinar X dengan materi (elektron, atom, dan kristal)
  • Aplikasi difraksi sinar X untuk karakterisasi material di berbagai bidang penelitian dan analisis
  • Kajian tentang kristal dengan parameter kristal
  • Mekanisme produksi sinar X, mekanisme filtrasi radiasi sinar X karakteristik oleh logam filter, dan mekanisme kristal menghasilkan difraktogram sinar X.
  • Bagian-bagian penting dalam difraktometer sinar X.
  • Penentuan jenis komponen kristal penyusun materi pacat (analisis kualitatif).
  • Kristalinitas.
  • Ukuran kristal dan regangan kisi.
  • Jumlah komponen kristal yang membentuk padat (analisis kuantitatif).

Informasi Tambahan

Berat 0.25 kg
Dimensi 23.5 x 15.5 cm
Penulis

Tutik Setianingsih, dkk

Tahun Terbit

2018

Jumlah Halaman

i-xiv + 96 hal.

ISBN

978-602-432-431-5 / 978-602-432-432-2(e)

Ulasan

Belum ada ulasan.

Be the first to review “Prinsip Dasar dan Aplikasi Metode Difraksi Sinar-X untuk Karakterisasi Material”